References

1. 1. В. К. Громов, Весёлчие в эллипсометрию, Изд-во ЛГУ (1986).
2. 2. С. Н. Свиташева, Метод эллипсометрии для исследования ианоразмерных пленок диэлектриков, полупроводников и металлов, Изд-во СО РАН Новосибирск (2019).
3. 3. А. И. Семененко, И. А. Семененко, Научное приборостроение 23, 47 (2013).
4. 4. С. Н. Свиташева, ДАН СССР 318 (5), 1154 (1991).
5. 5. Д. В. Сивухин, Общий курс физики. Оптика, Наука, Москва (1980).
6. 6. Л. А. Федюхин, А. В. Горчаков, Е. А. Колосовский, Опт. и спектр. 128, 257 (2020).
7. 7. Л. А. Федюхин, А. В. Горчаков, ЖЭТФ 158, 792 (2020).
8. 8. Shyam Singh, Phys. Scr. 65, 167 (2002).
9. 9. А. Л. Брикс, В сб. Исследования в области оптических и световых измерений, Труды метрологических институтов СССР 193, 14 (1976).
10. 10. Л. А. Федюхин, А. В. Горчаков, Н. Г. Коробейщиков, И. В. Николаев, Письма в ЖЭТФ 114, 304 (2021).