VLIYaNIE OBLUChENIYa IONAMI Xe S ENERGIEY 167 MEV NA SVERKhPROVODYaShchIE SVOYSTVA VTSP-LENT VTOROGO POKOLENIYa
Table of contents
Share
QR
Metrics
VLIYaNIE OBLUChENIYa IONAMI Xe S ENERGIEY 167 MEV NA SVERKhPROVODYaShchIE SVOYSTVA VTSP-LENT VTOROGO POKOLENIYa
Annotation
PII
S0044451024060099-1
Publication type
Article
Status
Published
Authors
Pages
827-832
Abstract
Проведены систематические исследования ВТСП-лент второго поколения, облученных высокоэнергетичными ионами Xe с энергией 167 МэВ и флюенсами до 1 ・ 1012 см-2. Определено оптимальное значение флюенса (количества частиц, прошедших через 1 см2 поверхности образца) для получения максимального критического тока при различных температурах и внешних магнитных полях. Увеличение внешнего магнитного поля приводит к смещению пика критического тока в сторону больших значений флюенсов во всем диапазоне температур. Приводятся результаты микроструктурных исследований методами просвечивающей/растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифракции. Показано, что в результате облучения образуются ионные треки диаметром порядка 5–8 нм, выступающие в роли эффективных центров пиннинга. Рентгеноструктурный анализ свидетельствует о снижении остроты текстуры под воздействием облучения.
Acknowledgment
Работы осуществлены при поддержке коллаборации Ariadna MSTE по программе прикладных материаловедческих исследований. Проведение рентгенофазового анализа проводилось А.М.П. при финансовой поддержке Российского научного фонда (проект № 23-49-10006). Магнитные измерения выполнены в ЦКП ФИАН им. П.Н. Лебедева РАН. Исследования микроструктуры и анализ полученных результатов выполнены при финансовой поддержке Министерства науки и высшего образования (Государственное задание ОИВТ РАН № 075-01129-23-00).
Received
06.07.2024
Number of purchasers
0
Views
24
Readers community rating
0.0 (0 votes)
Cite   Download pdf

References

1. A. Markelov, A. Valikov, V. Chepikov, A. Petrzhik, B. Massalimov, P. Degtyarenko, R. Uzkih, A. Soldatenko, A. Molodyk, K. Sim, and S. Hwang, Prog. Supercond. Cryog. 21, 29 (2019).

2. A. Malozemoff, Annu. Rev. Mater. Res. 42, 373 (2012).

3. A. Abrikosov, J. Phys. Chem. Solids 2, 199 (1957).

4. G. Blatter, M. Feigel’man, V. Geshkenbein, A. Larkin, and V. Vinokur, Rev. Mod. Phys. 66, 1125 (1994).

5. V. Selvamanickam, G. Carota, M. Funk, N. Vo, and P. Haldar, IEEE Trans. Appl. Supercond. 11, 3379 (2001).

6. A. Catana, R. Broom, J. Bednorz, J. Mannhart, and D. Schlom, Appl. Phys. Lett. 60 1016 (1992).

7. J. MacManus-Driscoll, S. Foltyn, Q. Jia, H. Wang, A. Serquis, B. Maiorov, L. Civale, Y. Lin, M. Hawley, M. Maley, and D. Peterson, Appl. Phys. Lett. 84, 5329 (2004).

8. N. Strickland, S. Wimbush, J. Kennedy, M. Ridgway, E. Talantsev, and N. Long, IEEE Trans. Appl. Supercond. 25, 1 (2015).

9. A. Erb, E. Walker, and R. Fl¨ukiger, Physica C Supercond. 258, 9 (1996).

10. C. Varanasi, P. Barnes, J. Burke, L. Brunke, I. Maartense, T. Haugan, E. Stinzianni, K. Dunn, and P. Haldar, Supercond. Sci. Technol. 19, 37 (2006).

11. A. Molodyk, S. Samoilenkov, A. Markelov, P. Degtyarenko, S. Lee, V. Petrykin, M. Gaifullin, A. Mankevich, A. Vavilov, B. Sorbom, J. Cheng, S. Garberg, L. Kesler, Z. Hartwig, S. Gavrilkin, A. Tsvetkov, T. Okada, S. Awaji, D. Abraimov, A. Francis, G. Bradford, D. Larbalestier, C. Senatore, M. Bonura, A. Pantoja, S. Wimbush, N. Strickland, and A. Vasiliev, Sci Rep. 11, 2084 (2021).

12. E. Suvorova, P. Degtyarenko, I. Karateev, A. Ovcharov, A. Vasiliev, V. Skuratov, and P. Buffat, J. Appl. Phys. 126, 145106 (2019).

13. E. Suvorova, P. Degtyarenko, A. Ovcharov, and A. Vasiliev, J. Surf. Investig. 16, 112 (2022).

14. C. Bean, Phys. Rev. Lett. 8, 250 (1962).

15. D. Larbalestier, A. Gurevich, D. Feldmann, and A. Polyanskii, Nature 414, 368 (2001).

Comments

No posts found

Write a review
Translate