Везде

VLIYaNIE OBLUChENIYa IONAMI Xe S ENERGIEY 167 MEV NA SVERKhPROVODYaShchIE SVOYSTVA VTSP-LENT VTOROGO POKOLENIYa

You can
PII
S0044451024060099-1
DOI
10.31857/S0044451024060099
Publication type
Article
Status
Published
Authors
P. N. Degtyarenko
  • Affiliation:
V. A. Skuratov
  • Affiliation:
Alexey Ovcharov
  • Affiliation:
A. M. Petrzhik
  • Affiliation:
C. Yu. Gavrilkin
  • Affiliation:
M. S. Novikov
  • Affiliation:
A. Yu. Malyavina
  • Affiliation:
M. V. Kozlova
  • Affiliation:
Volume/ Edition
Volume 165 / Issue number 6
Pages
827-832
Abstract
Проведены систематические исследования ВТСП-лент второго поколения, облученных высокоэнергетичными ионами Xe с энергией 167 МэВ и флюенсами до 1 ・ 1012 см-2. Определено оптимальное значение флюенса (количества частиц, прошедших через 1 см2 поверхности образца) для получения максимального критического тока при различных температурах и внешних магнитных полях. Увеличение внешнего магнитного поля приводит к смещению пика критического тока в сторону больших значений флюенсов во всем диапазоне температур. Приводятся результаты микроструктурных исследований методами просвечивающей/растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифракции. Показано, что в результате облучения образуются ионные треки диаметром порядка 5–8 нм, выступающие в роли эффективных центров пиннинга. Рентгеноструктурный анализ свидетельствует о снижении остроты текстуры под воздействием облучения.
Keywords
Date of publication
26.07.2025
Number of purchasers
0
Views
49

References

  1. 1. A. Markelov, A. Valikov, V. Chepikov, A. Petrzhik, B. Massalimov, P. Degtyarenko, R. Uzkih, A. Soldatenko, A. Molodyk, K. Sim, and S. Hwang, Prog. Supercond. Cryog. 21, 29 (2019).
  2. 2. A. Malozemoff, Annu. Rev. Mater. Res. 42, 373 (2012).
  3. 3. A. Abrikosov, J. Phys. Chem. Solids 2, 199 (1957).
  4. 4. G. Blatter, M. Feigel’man, V. Geshkenbein, A. Larkin, and V. Vinokur, Rev. Mod. Phys. 66, 1125 (1994).
  5. 5. V. Selvamanickam, G. Carota, M. Funk, N. Vo, and P. Haldar, IEEE Trans. Appl. Supercond. 11, 3379 (2001).
  6. 6. A. Catana, R. Broom, J. Bednorz, J. Mannhart, and D. Schlom, Appl. Phys. Lett. 60 1016 (1992).
  7. 7. J. MacManus-Driscoll, S. Foltyn, Q. Jia, H. Wang, A. Serquis, B. Maiorov, L. Civale, Y. Lin, M. Hawley, M. Maley, and D. Peterson, Appl. Phys. Lett. 84, 5329 (2004).
  8. 8. N. Strickland, S. Wimbush, J. Kennedy, M. Ridgway, E. Talantsev, and N. Long, IEEE Trans. Appl. Supercond. 25, 1 (2015).
  9. 9. A. Erb, E. Walker, and R. Fl¨ukiger, Physica C Supercond. 258, 9 (1996).
  10. 10. C. Varanasi, P. Barnes, J. Burke, L. Brunke, I. Maartense, T. Haugan, E. Stinzianni, K. Dunn, and P. Haldar, Supercond. Sci. Technol. 19, 37 (2006).
  11. 11. A. Molodyk, S. Samoilenkov, A. Markelov, P. Degtyarenko, S. Lee, V. Petrykin, M. Gaifullin, A. Mankevich, A. Vavilov, B. Sorbom, J. Cheng, S. Garberg, L. Kesler, Z. Hartwig, S. Gavrilkin, A. Tsvetkov, T. Okada, S. Awaji, D. Abraimov, A. Francis, G. Bradford, D. Larbalestier, C. Senatore, M. Bonura, A. Pantoja, S. Wimbush, N. Strickland, and A. Vasiliev, Sci Rep. 11, 2084 (2021).
  12. 12. E. Suvorova, P. Degtyarenko, I. Karateev, A. Ovcharov, A. Vasiliev, V. Skuratov, and P. Buffat, J. Appl. Phys. 126, 145106 (2019).
  13. 13. E. Suvorova, P. Degtyarenko, A. Ovcharov, and A. Vasiliev, J. Surf. Investig. 16, 112 (2022).
  14. 14. C. Bean, Phys. Rev. Lett. 8, 250 (1962).
  15. 15. D. Larbalestier, A. Gurevich, D. Feldmann, and A. Polyanskii, Nature 414, 368 (2001).
QR
Translate