ВЛИЯНИЕ ОБЛУЧЕНИЯ ИОНАМИ Xe С ЭНЕРГИЕЙ 167 МЭВ НА СВЕРХПРОВОДЯЩИЕ СВОЙСТВА ВТСП-ЛЕНТ ВТОРОГО ПОКОЛЕНИЯ

Дегтяренко П. Н.; Скуратов В. А.; Овчаров Алексей; Петржик А. М.; Гаврилкин C. Ю.; Новиков М. С.; Малявина А. Ю.; Козловa М. В.

doi:10.31857/S0044451024060099

Главная>Номер выпуска 6>ВЛИЯНИЕ ОБЛУЧЕНИЯ ИОНАМИ Xe С ЭНЕРГИЕЙ 167 МЭВ НА СВЕРХПРОВОДЯЩИЕ СВОЙСТВА ВТСП-ЛЕНТ ВТОРОГО ПОКОЛЕНИЯ

ВЛИЯНИЕ ОБЛУЧЕНИЯ ИОНАМИ Xe С ЭНЕРГИЕЙ 167 МЭВ НА СВЕРХПРОВОДЯЩИЕ СВОЙСТВА ВТСП-ЛЕНТ ВТОРОГО ПОКОЛЕНИЯ

Оглавление

Аннотация Оценить Содержание публикации

Библиография Комментарии

ВЛИЯНИЕ ОБЛУЧЕНИЯ ИОНАМИ Xe С ЭНЕРГИЕЙ 167 МЭВ НА СВЕРХПРОВОДЯЩИЕ СВОЙСТВА ВТСП-ЛЕНТ ВТОРОГО ПОКОЛЕНИЯ

Аннотация

Код статьи

S0044451024060099-1

Тип публикации

Статья

Статус публикации

Опубликовано

Авторы

Дегтяренко П. Н. Связаться с автором

Аффилиация:
Объединенный институт высоких температур Российской академии наук
ООО "С-Инновации"

Скуратов В. А.

Аффилиация: Объединенный институт ядерных исследований

Овчаров Алексей

Аффилиация: Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт"

Петржик А. М.

Аффилиация:
ООО "С-Инновации"
Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук

Гаврилкин C. Ю.

Аффилиация: Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук

Новиков М. С.

Аффилиация: Объединенный институт ядерных исследований

Малявина А. Ю.

Аффилиация: Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ"

Козловa М. В.

Аффилиация: Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук

Выпуск

Том 165 Номер выпуска 6

Страницы

827-832

Аннотация

Проведены систематические исследования ВТСП-лент второго поколения, облученных высокоэнергетичными ионами Xe с энергией 167 МэВ и флюенсами до 1 ・ 1012 см-2. Определено оптимальное значение флюенса (количества частиц, прошедших через 1 см2 поверхности образца) для получения максимального критического тока при различных температурах и внешних магнитных полях. Увеличение внешнего магнитного поля приводит к смещению пика критического тока в сторону больших значений флюенсов во всем диапазоне температур. Приводятся результаты микроструктурных исследований методами просвечивающей/растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифракции. Показано, что в результате облучения образуются ионные треки диаметром порядка 5–8 нм, выступающие в роли эффективных центров пиннинга. Рентгеноструктурный анализ свидетельствует о снижении остроты текстуры под воздействием облучения.

Источник финансирования

Работы осуществлены при поддержке коллаборации Ariadna MSTE по программе прикладных материаловедческих исследований. Проведение рентгенофазового анализа проводилось А.М.П. при финансовой поддержке Российского научного фонда (проект № 23-49-10006). Магнитные измерения выполнены в ЦКП ФИАН им. П.Н. Лебедева РАН. Исследования микроструктуры и анализ полученных результатов выполнены при финансовой поддержке Министерства науки и высшего образования (Государственное задание ОИВТ РАН № 075-01129-23-00).

Классификатор

Получено

06.07.2024

Всего подписок

Всего просмотров

Оценка читателей

0.0 (0 голосов)

Цитировать Скачать pdf

ГОСТ	Гаврилкин C. , Дегтяренко П. , Козловa М. , Малявина А. , Новиков М. , Овчаров А. , Петржик А. , Скуратов В. ВЛИЯНИЕ ОБЛУЧЕНИЯ ИОНАМИ Xe С ЭНЕРГИЕЙ 167 МЭВ НА СВЕРХПРОВОДЯЩИЕ СВОЙСТВА ВТСП-ЛЕНТ ВТОРОГО ПОКОЛЕНИЯ // Журнал экспериментальной и теоретической физики. – 2024. – T. 165. – Номер выпуска 6 C. 827-832 . URL: https://jetpras.ru/s0044451024060099-1/?version_id=105673. DOI: 10.31857/S0044451024060099
MLA	Degtyarenko, P. N, Gavrilkin, C. Yu, Kozlova, M. V, Malyavina, A. Yu, Novikov, M. S, Ovcharov, Alexey, Petrzhik, A. M, Skuratov, V. A "VLIYaNIE OBLUChENIYa IONAMI Xe S ENERGIEY 167 MEV NA SVERKhPROVODYaShchIE SVOYSTVA VTSP-LENT VTOROGO POKOLENIYa." Журнал экспериментальной и теоретической физики. 165.6 (2024).:827-832. DOI: 10.31857/S0044451024060099
APA	Degtyarenko P., Gavrilkin C., Kozlova M., Malyavina A., Novikov M., Ovcharov A., Petrzhik A., Skuratov V. (2024). VLIYaNIE OBLUChENIYa IONAMI Xe S ENERGIEY 167 MEV NA SVERKhPROVODYaShchIE SVOYSTVA VTSP-LENT VTOROGO POKOLENIYa. Журнал экспериментальной и теоретической физики. vol. 165, no. 6, pp.827-832 DOI: 10.31857/S0044451024060099

Библиография

1. A. Markelov, A. Valikov, V. Chepikov, A. Petrzhik, B. Massalimov, P. Degtyarenko, R. Uzkih, A. Soldatenko, A. Molodyk, K. Sim, and S. Hwang, Prog. Supercond. Cryog. 21, 29 (2019).

2. A. Malozemoff, Annu. Rev. Mater. Res. 42, 373 (2012).

3. A. Abrikosov, J. Phys. Chem. Solids 2, 199 (1957).

4. G. Blatter, M. Feigel’man, V. Geshkenbein, A. Larkin, and V. Vinokur, Rev. Mod. Phys. 66, 1125 (1994).

5. V. Selvamanickam, G. Carota, M. Funk, N. Vo, and P. Haldar, IEEE Trans. Appl. Supercond. 11, 3379 (2001).

6. A. Catana, R. Broom, J. Bednorz, J. Mannhart, and D. Schlom, Appl. Phys. Lett. 60 1016 (1992).

7. J. MacManus-Driscoll, S. Foltyn, Q. Jia, H. Wang, A. Serquis, B. Maiorov, L. Civale, Y. Lin, M. Hawley, M. Maley, and D. Peterson, Appl. Phys. Lett. 84, 5329 (2004).

8. N. Strickland, S. Wimbush, J. Kennedy, M. Ridgway, E. Talantsev, and N. Long, IEEE Trans. Appl. Supercond. 25, 1 (2015).

9. A. Erb, E. Walker, and R. Fl¨ukiger, Physica C Supercond. 258, 9 (1996).

10. C. Varanasi, P. Barnes, J. Burke, L. Brunke, I. Maartense, T. Haugan, E. Stinzianni, K. Dunn, and P. Haldar, Supercond. Sci. Technol. 19, 37 (2006).

11. A. Molodyk, S. Samoilenkov, A. Markelov, P. Degtyarenko, S. Lee, V. Petrykin, M. Gaifullin, A. Mankevich, A. Vavilov, B. Sorbom, J. Cheng, S. Garberg, L. Kesler, Z. Hartwig, S. Gavrilkin, A. Tsvetkov, T. Okada, S. Awaji, D. Abraimov, A. Francis, G. Bradford, D. Larbalestier, C. Senatore, M. Bonura, A. Pantoja, S. Wimbush, N. Strickland, and A. Vasiliev, Sci Rep. 11, 2084 (2021).

12. E. Suvorova, P. Degtyarenko, I. Karateev, A. Ovcharov, A. Vasiliev, V. Skuratov, and P. Buffat, J. Appl. Phys. 126, 145106 (2019).

13. E. Suvorova, P. Degtyarenko, A. Ovcharov, and A. Vasiliev, J. Surf. Investig. 16, 112 (2022).

14. C. Bean, Phys. Rev. Lett. 8, 250 (1962).

15. D. Larbalestier, A. Gurevich, D. Feldmann, and A. Polyanskii, Nature 414, 368 (2001).

Библиография

Комментарии

Войти через