- Код статьи
- S0044451024020032-1
- DOI
- 10.31857/S0044451024020032
- Тип публикации
- Статья
- Статус публикации
- Опубликовано
- Авторы
- Том/ Выпуск
- Том 165 / Номер выпуска 2
- Страницы
- 165-190
- Аннотация
- Фемтосекундные импульсы широко используются в научных исследованиях и современных технологиях. При воздействии на металлы ультракороткое оптическое лазерное воздействие формирует выраженное двухтемпературное состояние с горячими электронами: Te ≫ Ti, где Te и Ti - температуры электронной и решеточной подсистем. Представлены экспериментальные измерения, выполненные с помощью техники фазочувствительного или синхронного детектирования (lock-in) на объемной и пленочной (толщина 100 нм) мишенях из золота. Благодаря тому, что в наших опытах частота повторений нагревающих импульсов снижена до 31 Гц, нам удалось достичь температур около температуры плавления золота. Это происходит на выходе из двухтемпературной стадии в объемных мишенях. Как известно, по окончании этой стадии температуры сближаются, Te ≈ Ti. В объемных мишенях при наибольших достигнутых нами флюенсах пиковая электронная температура повышается до значений около 20 кК. Теоретические расчеты, имеющиеся в литературе, дают определенные зависимости для параметра электрон-фононного взаимодействия α и коэффициента электронной теплопроводности κ - ключевых параметров, характеризующих двухтемпературную стадию. Наши опыты показали, что в диапазоне флюенсов с пиковыми температурами Te выше 10 кК и до 20 кК измеренные значения α и κ существенно ниже тех значений, которые дают теории. Ниже этого диапазона флюенсов, т. е. когда пиковые Te меньше 10 кК, измеренные нами значения согласуются с прежними данными. Это первый результат статьи. Кроме того, показано, что на однотемпературной стадии, когда тепловая энергия, запасенная в электронах, весьма мала, имеется значительное влияние принципиально двухтемпературного коэффициента α на теплоотвод из скин-слоя. Это связано с относительно малой толщиной прогретого слоя, которая в золоте составляет величину порядка 200–300 нм.
- Ключевые слова
- Дата публикации
- 26.07.2025
- Всего подписок
- 0
- Всего просмотров
- 41
Библиография
- 1. A.B. Cherepakhin, D.V. Pavlov, I. I. Shishkin et al., Appl.Phys. Lett. 117, 041108 (2020).
- 2. S. I. Kudryashov, A.A. Samokhvalov, Ya.D. Golubev et al., Appl. Surf. Sci. 537, 147940 (2021).
- 3. K. Kaleris, E. Kaniolakis-Kaloudis, E. Kaselouris et al., Appl.Phys.A 129, 527 (2023).
- 4. S.A. Romashevskiy, A. I. Ignatov, V.V. Zhakhovsky et al., Appl. Surf. Sci. 615, 156212 (2023).
- 5. T. Kawashima, T. Sano, A. Hirose et al., J.Mater. Process.Technol.262, 111 (2018).
- 6. U. Trdan, T. Sano, D. Klobcar et al., Corrosion Sci. 143, 46 (2018).
- 7. Н.А. Иногамов, Е.А. Перов, В.В.Жаховский и др., Письма в ЖЭТФ 115, 80 (2022).
- 8. В.А. Хохлов, В.В.Жаховский, Н.А. Иногамов и др., Письма в ЖЭТФ 115, 576 (2022).
- 9. V. Zhakhovsky, Yu. Kolobov, S. Ashitkov et al., Phys. Fluids 35, 096104 (2023).
- 10. С.И. Анисимов, Б.Л. Капелиович, Т.Л. Перельман, ЖЭТФ 66, 776 (1974).
- 11. W. S. Fann, R. Storz, H.W.K. Tom, and J. Bokor, Phys.Rev. Lett. 68, 2834 (1992).
- 12. C.-K. Sun, F. Vall´ee, L.H. Acioli et al., Phys. Rev.B 50, 15337 (1994).
- 13. J. Hohlfeld, S.-S. Wellershoff, J. Guedde et al., Chem.Phys. 251, 237 (2000).
- 14. N. Del Fatti, C. Voisin, M. Achermann et al., Phys.Rev.B 61, 16956 (2000).
- 15. A.N. Smith and P.M. Norris, Appl.Phys. Lett. 78, 1240 (2001).
- 16. P.E. Hopkins, J.M. Klopf, and P.M. Norris, Appl. Opt. 46, 2076 (2007).
- 17. Yu.V. Petrov, K.P. Migdal, N.A. Inogamov, and V.V. Zhakhovsky, Appl.Phys.B 119, 401 (2015).
- 18. Ю.В. Петров, К.П. Мигдал, Н.А. Иногамов, С.И. Анисимов, Письма в ЖЭТФ 104, 446 (2016).
- 19. B.Y. Mueller and B. Rethfeld, Phys.Rev.B 87, 035139 (2013).
- 20. B. Rethfeld, D. S. Ivanov, M.E. Garcia, and S. I. Anisimov, J.Phys.D 50, 193001 (2017).
- 21. А.А. Абрикосов, Основы теории металлов, Москва, Наука (1987).
- 22. S. Chapman and T.G. Cowling, The Mathematical Theory of Non-Uniform Gases, Cambridge Univ. Press (1970).
- 23. М.И. Каганов, И.М. Лифшиц, Л.В. Танатаров, ЖЭТФ 31, 232 (1956).
- 24. Yu.V. Petrov, Laser Part.Beams 23, 283 (2005).
- 25. V.V. Temnov, K. Sokolowski-Tinten, P. Zhou, and D. von der Linde, J.Opt. Soc.Am.B 23, 1954 (2006).
- 26. C.A. Paddock and G. L. Eesley, J.Appl.Phys. 60, 285 (1986).
- 27. Н.А. Иногамов, В.А. Хохлов, С.А. Ромашевский и др., Письма в ЖЭТФ 117, 107 (2023).
- 28. V.V. Temnov, C. Klieber, K.A. Nelson et al., Nature Commun. 4, 1468 (2013).
- 29. F. Akhmetov, I. Milov, S. Semin et al., Vacuum 212, 112045 (2023).
- 30. K. Sokolowski-Tinten, J. Bialkowski, A. Cavalleri et al., Phys.Rev. Lett. 81, 224 (1998).
- 31. Н.А. Иногамов, В.В.Жаховский, С.И. Ашитков и др., ЖЭТФ 134, 5 (2008).
- 32. J.C. Crowhurst, M.R. Armstrong, K.B. Knight et al., Phys.Rev. Lett. 107, 144302 (2011).
- 33. С.И. Ашитков, П.С. Комаров, М.Б. Агранат и др., Письма в ЖЭТФ 98, 439 (2013).
- 34. N. Hasegawa, M. Nishikino, M. Ishino et al., Springer Proc.Phys. 202, 273 (2018).
- 35. B. Albertazzi, N. Ozaki, V. Zhakhovsky et al., Sci.Adv. 3, e160270 (2017).
- 36. M. Z. Mo, Z. Chen, R.K. Li et al., Science 360 (6396), 1451 (2018).
- 37. R. Fang, A. Vorobyev, and Ch. Guo, Light: Sci. Appl. 6, e16256 (2017).
- 38. Н.А. Иногамов, А.М. Опарин, Ю.В. Петров и др., Письма в ЖЭТФ 69, 284 1999).
- 39. В.В.Жаховский, К. Нишихара, С.И. Анисимов, Н.А. Иногамов, Письма в ЖЭТФ 71, 241 (2000).
- 40. L.V. Zhigilei and B. J. Garrison, J.Appl.Phys. 88, 1281 (2000).
- 41. Н.А. Иногамов, Ю.В. Петров, ЖЭТФ 137, 505 (2010).
- 42. N.A. Smirnov, Phys.Rev.B 106, 024109 (2022).
- 43. Zh. Lin, L.V. Zhigilei, and V. Celli, Phys.Rev.B 77, 075133 (2008).
- 44. Н.А. Иногамов, В.В.Жаховский, В.А. Хохлов, ЖЭТФ147, 20 (2015)
- 45. С.И. Анисимов, В.В.Жаховский, Н.А. Иногамов и др.,ЖЭТФ 156, 806 (2019).
- 46. M.E. Povarnitsyn, T.E. Itina, P.R. Levashov, and K.V. Khishchenko, Phys.Chem.Chem.Phys. 15, 3108 (2013).
- 47. A. Block, R. Yu, Ieng-Wai Un et al., ACS Photonics 10, 1150 (2023).
- 48. Ю.В. Петров, Н.А. Иногамов, К.П. Мигдал, Письма в ЖЭТФ 97, 24 (2013).
- 49. S. I. Ashitkov, P. S. Komarov, V.V. Zhakhovsky et al., J.Phys.: Conf. Ser. 774, 012097 (2016).
- 50. A. Block, M. Liebel, R. Yu et al., Sci.Adv. 5, eaav8965 (2019).
- 51. M. Segovia and X. Xu, Nano Lett. 21, 7228 (2021).
- 52. G. Gao, L. Jiang, B. Xue et al., Small Methods 7, 2201260 (2023).
- 53. N.A. Inogamov, V.V. Zhakhovsky, S. I. Ashitkov et al., Contrib.Plasma Phys. 51, 367 (2011).
- 54. N.A. Inogamov and V.V. Zhakhovsky, J.Phys.: Conf. Ser. 681, 012001 (2016).
- 55. N.A. Inogamov, V.V. Zhakhovsky, V.A. Khokhlov et al., J.Phys.: Conf. Ser. 774, 012102 (2016).
- 56. V.V. Shepelev and N.A. Inogamov, J.Phys: Conf. Ser. 946, 012010 (2018).
- 57. J.M. Liu, Opt. Lett. 7, 196 (1982).
- 58. S. I. Kudryashov, A.A. Samokhvalov, Ya.D. Golubev et al., Appl. Surf. Sci. 537, 147940 (2021).
- 59. S. I. Ashitkov, N.A. Inogamov, P. S. Komarov et al., High Temp. 60, 192 (2022).
- 60. S. Babar and J.H. Weaver, Appl.Opt. 54, 477 (2015).
- 61. H. Reddy, U. Guler, A.V. Kildishev et al., Opt. Mater.Express 6, 2776 (2016).