Представлен обзор исследований вигнеровской кристаллизации в двумерных структурах акустическими методами. Эти методы позволили определять зависимости от частоты действительной σ1 и мнимой σ2 компонент высокочастотной проводимости σhf = σ1 – iσ2. Кристаллизация носителей заряда наблюдалась при низких температурах T < 0.3K в сильных магнитных полях вблизи чисел заполнения v ≤ 2. Частотные зависимости действительной σ1 и мнимой σ2 компонент проводимости дают возможность установить факт образования доменов вигнеровского кристалла в структурах, вычислить их средние размеры и определить температуру плавления. Статья представлена в рамках публикации материалов 39-го Совещания по физике низких температур (НТ-2024), Черноголовка, июнь 2023 г.
Индексирование
Scopus
Crossref
Higher Attestation Commission
At the Ministry of Education and Science of the Russian Federation