Измерен резонансный спектр дислокационных пробегов в кристалле NaCl(Ca+Ni) в сверхнизких скрещенных магнитных полях, постоянном поле Земли и переменном поле накачки. Движение обусловлено спин-зависимым преобразованием примесных стопоров на дислокациях, что приводит к их депиннингу и релаксационным перемещениям в поле внутренних напряжений. Спектр резонансных частот поля накачки интерпретируется в терминах сверхтонкого взаимодействия пар электронов на примесных центрах и окружающих лигандах Cl. Спектр сопоставлен с ранее полученными спектрами: микротвердости на том же кристалле и дислокационных пробегов в кристалле NaCl(Ca). Сходства и различия трех спектров помогают установить относительную роль примесей Са и Ni в наблюдаемых процессах.
Теоретически проанализированы условия существования плазмон-поляритонов на границе раздела одноосного кристалла произвольной ориентации и изотропного металла. Доказано, что при не слишком большой диэлектрической проницаемости|εm| металла и достаточно низкой анизотропии кристалла для распространения этой волны нет никаких геометрических запретов. Ограничения возникают, когда значение|εm| превышает определенные пороги, которые в явном виде найдены для оптически положительных и отрицательных кристаллов. Запретные зоны для ориентаций оптической осиcограничены контурами делокализации поляритонов в кристалле. Найдено их расположение на единичной сфереc2 = 1. Граничные конусы ориентации оптических осей в положительных и отрицательных кристаллах различаются: в первом случае они окружают нормаль к сагиттальной плоскости, а во втором — нормаль к интерфейсу.
Обнаружено значительное (около 7%) резонансное снижение микротвердости кристалла NaCl после его короткой экспозиции в схеме ЭПР-типа в сверхнизких скрещенных магнитных полях, постоянном поле Земли 50 мкТл и импульсном поле c амплитудой 18 мкТл и регулируемой длительностью в диапазоне τ = 0.5–0.74 мкс. Максимум эффекта наблюдался с задержкой на 3–5 ч после экспозиции. Подробно промерены два интервала τ в начале и конце диапазона. В них были найдены три резонансных пика микротвердости: двойной минимум при τ = 0.512 мкс и 0.520 мкс, а также одиночный пик при 0.724 мкс. Полуширина пиков не превышает 10 нс, а их форма и положения хорошо соответствуют аналогам в спектре микротвердости того же кристалла, полученном в идентичной схеме ЭПР-типа с гармонической 30-минутной накачкой [1]. Измерен также порог эффекта по амплитуде импульса накачки: примерно 16 мкТл. Обсуждаются физические механизмы наблюдаемого эффекта.
Индексирование
Scopus
Crossref
Высшая аттестационная комиссия
При Министерстве образования и науки Российской Федерации