Для серии допированных железом поликристаллических высокотемпературных сверхпроводников Y1–xFexBa2CuOy (0 ⩽ x ⩽ 0.05), синтезированных с использованием нитратно-цитратного варианта золь–гель-методики, проведены исследования структу3рных (рентгеновским и электронно-микроскопическим методами) и магнитных (в переменных и постоянных магнитных полях) свойств. Для этих образцов определены зависимости от степени допирования кристаллографических параметров, размеров кристаллитов, температур перехода в сверхпроводящее состояние, а также вид и размах гистерезиса намагниченности в полях до 6Тл. Рассчитаны полевые зависимости плотности внутрикристаллического критического тока Jc. Показано, что однородное распределение допанта по объему кристаллитов вследствие применения золь–гель-методики приводит к существенному улучшению функциональных параметров по сравнению с образцами, полученными твердофазным методом. Улучшается микроструктура, что проявляется в увеличении размеров и более четкой огранке кристаллитов, а также сужается температурный интервал перехода в сверхпроводящее состояние, увеличиваются размах магнитополевого гистерезиса намагниченности и критический ток. В результате, в золь–гель-образцах при степени допирования железом x ≈ 0.03 реализуется эффект увеличения Jc, превышающий порядок величины.
