При исследовании стационарных спектров ЭПР примесных ионов эрбия в ортосиликате иттрия Y2SiO5 на спектрометре ELEXSYS с диэлектрическим резонатором обнаружена аномальная зависимость формы резонансных линий от интенсивности микроволнового возбуждения. При относительно большой интенсивности и частичном насыщении резонансного перехода форма линии представляет суперпозицию обычной линии, соответствующей производной контура резонансного поглощения, и линии аномальной формы, соответствующей собственно контуру линии поглощения. Предполагается, что появление аномальной компоненты линии связано с одновременным возбуждением магнитных дипольных и электрических квадрупольных переходов в связанной системе магнитных дипольных и электрических квадрупольных осцилляторов электронной спиновой системы ионов эрбия.
