ОФНЖурнал экспериментальной и теоретической физики Journal of Experimental and Theoretical Physics

  • ISSN (Print) 0044-4510
  • ISSN (Online) 3034-641X

Определение тензора деформаций и полей упругих напряжений в алмазной пластине с большой кривизной изгиба на основе данных локального дифракционного метода Лауэ

Код статьи
10.31857/S0044451023120027-1
DOI
10.31857/S0044451023120027
Тип публикации
Статья
Статус публикации
Опубликовано
Авторы
Том/ Выпуск
Том 164 / Номер выпуска 6
Страницы
885-895
Аннотация
Алмазные монокристаллические пластины с цилиндрическим изгибом имеют большой потенциал для создания энергодисперсионных спектрометров и фокусирующих кристалл-монохроматоров. При их конструировании требуется учитывать значительные напряжения, возникающие при изгибе пластин. Представлены результаты расчета тензора деформаций и полей упругих напряжений в цилиндрически изогнутой монокристаллической алмазной пластине с ориентацией поверхности (110). Расчеты основаны на экспериментальных данных, полученных с помощью локального дифракционного метода Лауэ. Результаты расчетов могут быть использованы при проектировании новых рентгенооптических устройств с возможностью управления их параметрами.
Ключевые слова
Дата публикации
16.09.2025
Год выхода
2025
Всего подписок
0
Всего просмотров
6

Библиография

  1. 1. Y. Shvyd'ko, S. Terentyev, V. Blank et al., J. Synchrotron Rad. 28, 1720 (2021).
  2. 2. I. Nam, C.-K. Min, B. Oh et al., Nat. Photon. 15, 435 (2021).
  3. 3. J. Amann, W. Berg, V. Blank et al., Nat. Photon. 6, 693 (2012).
  4. 4. B. Larson, W. Yang, G.E. Ice et al., Nature 415, 887 (2002).
  5. 5. Д. М. Хейкер, В. А. Шишков, Ю. Н. Шилин и др., Кристаллография 52, 767 (2007).
  6. 6. U. Boesenberg, L. Samoylova, T. Roth et al., Opt. Express. 25, 2852 (2017).
  7. 7. S. Terentyev, V. Blank, T. Kolodziej et al., Rev. Sci. Instrum. 87, 125117 (2016).
  8. 8. L. Samoylova, U. Boesenberg, A. Chumakov et al., J. Synchrotron Rad. 26, 1069 (2019).
  9. 9. P. Qi, N. Samadi, M. Martinson, O. Ponomarenko et al., Sci. Rep. 9, 17734 (2019).
  10. 10. V. D. Blank, M. S. Kuznetsov, S. Nosukhin et al., Diam. Relat. Mater. 16, 800 (2007).
  11. 11. S. Polyakov, V. Denisov, N. Kuzmin et al., Diam. Relat. Mater. 20, 726 (2011).
  12. 12. S. Terentyev, V. Blank, S. Polyakov et al., Appl. Phys. Lett. 107, 111108 (2015).
  13. 13. В. Н. Решетов, И. В. Красногоров, В. В. Соловьев и др., Наноиндустрия 7-8, 466 (2022)
  14. 14. A. Abboud, C. Kirchlechner, J. Keckes et al., J. Appl. Cryst. 50, 901 (2017).
  15. 15. P. C. Wang, G. S. Cargill, and I. C. Noyan, MRS Online Proc. Library 375, 247 (1994).
  16. 16. S. Tardif, A. Gassenq, K. Guilloy et al., J. Appl. Cryst. 49, 1402 (2016).
  17. 17. X. Huang, J. Appl. Cryst. 43, 926 (2010).
  18. 18. С. Г. Лехницкий, Теория упругости анизотропного тела, Наука, Москва (1977), с 87.
  19. 19. L. Xing, K. Zhang, P. Liu et al., Proc. SPIE 12169, 1216982 (2022).
  20. 20. Samuel Tardif, Alban Gassenq, Kevin Guilloy et al., J. Appl. Cryst. 43, 926 (2010).
  21. 21. M. Morita and O. Umezawa, in Optical Measurements, Modeling, and Metrology, Vol. 5 (2011), p. 91.
  22. 22. P. Qi, X. Shi, N. Samadi et al., Proc. SPIE 11108, 111080E (2019).
  23. 23. M. A. Doronin, S. N. Polyakov, K. S. Kravchuk et al., Diam. Relat. Mater., 87, 149 (2018).
  24. 24. Ю. И. Сиротин, М. П. Шаскольская, Основы кристаллофизики, Наука, Москва (1979).
  25. 25. Б. П. Сорокин, Г. М. Квашнин, М. С. Кузнецов и др., Журнал СФУ, сер. Матем. и физ. 6:1 (2013).
QR
Перевести

Индексирование

Scopus

Scopus

Scopus

Crossref

Scopus

Высшая аттестационная комиссия

При Министерстве образования и науки Российской Федерации

Scopus

Научная электронная библиотека